分析了69个随机挑选的核盘菌弱毒菌株Ep-1PN原生质体再生后代的生长速度、菌落形态和毒性。结果表明其中的35个再生后代在PDA平板上均匀扩展，形成典 型的核盘菌菌落，生长速度大于18 mm/d。在离体莴苣杆上，这些后代的培养物引起较大的 病斑。当它们同亲合性菌株Ep-1PNA183在PDA平板上接触时没有发现Ep-1PNA183菌落发生 异常变化，说明这些后代已失去了Ep-1PN的弱毒因子，恢复了正常核盘菌的特性。10个再生后代同Ep-1PN的生长及致病性等没有差异。其他的24个再生后代在菌丝生长速度、菌落形态和毒性等方面介于Ep-1PN和35个完全恢复的后代之间，因而是部分恢复的后代。这些后代的获得为进一步研究核盘菌弱毒现象的分子机理奠定了基础。